同惠TH511半導體C-V特性分析儀是同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。

同惠TH511半導體C-V特性分析儀采用了一體化集成設計，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容、CV特性可一鍵測試，無需頻繁切換接線及設置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試，同惠TH511半導體C-V特性分析儀適用于生產(chǎn)線快速測試、自動化集成。

同惠TH511半導體C-V特性分析儀的CV曲線掃描分析能力亦能滿足實驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析。儀器設計頻率為1kHz-2MHz，VGS電壓可達±40V，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V，同惠TH511半導體C-V特性分析儀滿足大多數(shù)功率器件測試。